ПРЕДИСЛОВИЕ
В настоящее время развитие нанотехнологии в области металлургии
требует усовершенствования методов исследования структуры металла после
различных фазовых превращений. Основными методами являются
рентгеноструктурный и электронно-микроскопический методы анализа
материалов. В рентгеноструктурном анализе в основном используется метод
рентгеновской дифрактометрии. Основным из методов электронной
микроскопии на кристаллическом уровне является метод электронографии. В
качестве дополнительного метода исследования используют
рентгеноспектральный анализ для уточнения распределения химических
элементов. В первой части пособия рассматриваются теоретические вопросы
рентгенографии, рентгеноспектрального анализа и электронографии, что
особенно важно для инженерно-технических кадров любого профиля.
5
